Nouvel oscilloscope NI haute tension, haute vitesse et haute résolution
22 novembre 2016
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La gamme de mesure de tension pic à pic du nouvel oscilloscope PXIe-5164 est de 100 V à 1 Géch./s avec une résolution de 14 bits. Son architecture est ouverte et modulaire PXI ; avec son FPGA programmable par l'utilisateur, il répond aux besoins des applications dans les secteurs aérospatiale et défense, du semi-conducteur ou encore de la recherche en physique, qui nécessitent des mesures de hautes tensions et de grande précision.
Il s'agit pour NI de diminuer les temps de test, d'augmenter la densité de voies, et d'assouplir les mesures en associant une large bande passante, une haute résolution et une gamme de tensions élevée. Leur PXIe-5164 dépasse largement n'importe quel instrument traditionnel. Si vous devez mesurer un signal haute tension jusqu'à 100 Vpp à 1 Géch./s maximum, le convertisseur A/N 14 bits permet maintenant d'utiliser le même instrument pour visualiser de petits détails généralement masqués par le bruit de l'instrument.
Les oscilloscopes PXI sont simples à utiliser. Les ingénieurs peuvent exploiter les faces-avant interactives du logiciel pilote NI-SCOPE pour les mesures de base, mettre au point des applications automatiques ou visualiser des données pendant l'exécution d'un programme de test. Sont inclus des fichiers d'aide, de la documentation et des exemples de programmes prêts à l'emploi, et une interface de programmation compatible (LabVIEW, Microsoft .NET ou C).
Les oscilloscopes PXI peuvent être associés au séquenceur de tests TestStand. Ces systèmes bénéficient de plus de 600 produits au format PXI, du continu aux ondes millimétriques, avec des débits de données élevés supportés par les interfaces de bus PCI Express, une précision de synchronisation inférieure à la nanoseconde et des capacités de cadencement et de déclenchement intégrées.
Il s'agit pour NI de diminuer les temps de test, d'augmenter la densité de voies, et d'assouplir les mesures en associant une large bande passante, une haute résolution et une gamme de tensions élevée. Leur PXIe-5164 dépasse largement n'importe quel instrument traditionnel. Si vous devez mesurer un signal haute tension jusqu'à 100 Vpp à 1 Géch./s maximum, le convertisseur A/N 14 bits permet maintenant d'utiliser le même instrument pour visualiser de petits détails généralement masqués par le bruit de l'instrument.
Caractéristiques remarquables :
- Deux voies échantillonnées à 1 Géch./s ; bande passante : 400 MHz – résolution : 14 bits ;
- Deux voies CAT II ; tension d'entrée max. : 100 Vpp ; décalages programmables permettant d'effectuer des mesures jusqu'à ± 250 V ;
- Jusqu'à 34 voies dans un seul châssis PXI pour des systèmes parallèles compacts à grand nombre de voies ;
- Flux de données de 3,5 Go/s via 8 voies de communication de bus PCI Express Gen 2 ;
- FPGA Xilinx Kintex-7 410 permettant de développer des IP personnalisées en LabVIEW, notamment de filtrage et de déclenchement.
Les oscilloscopes PXI sont simples à utiliser. Les ingénieurs peuvent exploiter les faces-avant interactives du logiciel pilote NI-SCOPE pour les mesures de base, mettre au point des applications automatiques ou visualiser des données pendant l'exécution d'un programme de test. Sont inclus des fichiers d'aide, de la documentation et des exemples de programmes prêts à l'emploi, et une interface de programmation compatible (LabVIEW, Microsoft .NET ou C).
Les oscilloscopes PXI peuvent être associés au séquenceur de tests TestStand. Ces systèmes bénéficient de plus de 600 produits au format PXI, du continu aux ondes millimétriques, avec des débits de données élevés supportés par les interfaces de bus PCI Express, une précision de synchronisation inférieure à la nanoseconde et des capacités de cadencement et de déclenchement intégrées.
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