Le présent circuit pourra s’avérer d’un grand intérêt pour des circuits de mesure ou de déclenchement ainsi que lors d’opérations de test. Il capte, lors d’un flanc montant, une période d’un signal rectangulaire en plein milieu d’un train d’impulsions.L’application d’un flanc montant d’une impulsion TTL à l’entrée SELECT se traduit par l’apparition à la sortie de la porte IC2d, d’une impulsion en aiguille, impulsion dont la longueur est de quelques nano-secondes, cette durée dépendant des durées de transfert des portes NAND montées en inverseur IC2a à IC2c.
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