Pour le test de technologies à faible consommation WLAN 802.11ac et Bluetooth, National Instruments combine la suite logicielle NI WLAN Measurement avec le VST (transcepteur de signaux vectoriels) NI PXIe-5644R à base de FPGA et NI LabVIEW pour créer des systèmes de test conçus par logiciel. Ce dispositif offre des performances remarquables en matière d'amplitude de vecteur d'erreur (EVM), et une cadence des tests en production cinq fois supérieure à celle des systèmes traditionnels.

Le recours à l’instrumentation modulaire PXI à base de FPGA offre des capacités de test hautes performances programmables par l’utilisateur. Ces solutions de test associées aux autres solutions de connectivité cellulaires, de navigation et sans fil proposées par NI, aident les ingénieurs à tester avec précision leurs matériels sur une seule et unique plate-forme.

 

“En utilisant le transcepteur de signaux vectoriels conçu par logiciel et la suite WLAN Measurement, nous avons multiplié par 200 les vitesses de nos tests par rapport aux instruments traditionnels empilés dans une baie, tout en améliorant de façon significative la couverture des tests,” souligne Doug Johnson, director of engineering chez Qualcomm Atheros.

 

Caractéristiques

  • Idéales pour le test de caractérisation et en production avec une excellente amplitude de vecteur d’erreur RMS de -46 dB pour 256 QAM
  • Capacité à effectuer des mesures et à exécuter des algorithmes personnalisés sur le FPGA embarqué du VST NI PXIe-5644R pour des mesures et un test temps réel accélérés