Yokogawa Test & Measurement Corporation a lancé son nouveau réflectomètre haute résolution AQ7420, utilisant la technologie OLCR (optical low-coherence reflectometry). Ce dispositif est idéal pour l'analyse de la structure interne des modules optiques et la visualisation des microfissures dans les connecteurs optiques.


Il offre une résolution spatiale de 40 µm et une sensibilité de réflexion arrière jusqu'à -100 dB ou moins, sans bruit parasite. Avec une unité de tête de capteur optionnelle, il peut également mesurer simultanément la perte d'insertion, rendant l'AQ7420 très efficace pour diverses applications optiques.

Deux modèles sont disponibles : à longueur d'onde unique (1310 nm) et à deux longueurs d'onde (1310 et 1550 nm). Yokogawa propose également un logiciel de contrôle pour Windows 11, un capteur de mesure de perte optionnel et divers codes maîtres compatibles avec différents types de connecteurs.

Données techniques :

  • Réduction significative du bruit parasite
  • Mesure simultanée de la réflexion arrière et de la perte d'insertion
  • Temps de mesure réduit de moitié (6 secondes contre 12 secondes)
  • Résolution spatiale : 40 µm
  • Sensibilité de réflexion arrière : Jusqu'à -100 dB
  • Incertitude de mesure de réflexion arrière :
  • Plage normale (-14,7 à -85 dB) : ±3 dB
  • Plage haute sensibilité (-50 à -90 dB) : ±3 dB
  • Plage haute sensibilité (-90 à -100 dB) : ±5 dB
  • Plage de mesure des pertes d'insertion : 0 à 10 dB (avec tête capteur en option)
  • Incertitude de mesure des pertes d'insertion : ±0,02 dB
  • Options de longueur d'onde :
    • 1310 nm
    • 1310 nm et 1550 nm
  • Mécanisme de contrôle de polarisation : Élimine la dépendance à la polarisation
  • Dimensions : 430 mm (L) x 132 mm (H) x 350 mm (P) (hors protecteur et poignée)
  • Poids : Environ 8 kg

Principaux marchés cibles :

  • Entreprises et organisations menant des recherches en photonique sur silicium
  • Fabricants exploitant des lignes de production pour connecteurs et composants optiques
  • Toute entreprise impliquée dans l'analyse de composants optiques défectueux

Applications :

  • Analyse de la structure interne des modules optiques
  • Visualisation des microfissures dans les connecteurs optiques
  • Mesure de la rétrodiffusion optique et de la perte d'insertion

Yokogawa Test & Measurement